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저자정보
S. Jegadeesan (M. Kumarasamy College of Engineering) M. Dhamodaran (M. Kumarasamy College of Engineering) M. Azees (V.S.B. Engineering College) S. Sri Shanmugapriya (V.S.B. Engineering College)
저널정보
한국자기학회 Journal of Magnetics Journal of Magnetics Vol.23 No.2
발행연도
2018.6
수록면
207 - 213 (7page)
DOI
10.4283/JMAG.2018.23.2.207

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In this paper, a high resolution magnetic measurements are performed in an AES (advanced encryption standard) cryptographic FPGA by using a newly designed magnetic probe. The probe consists of high resolution scanning system and magnetic field collecting coil integrated with 3-stage low noise amplifier to enhance the sensed voltage. Also, to improve the performance of the magnetic coil, the Si-substrate is removed under the coil by using FIB process. The results and discussion section clearly shows that, the proposed magnetic probe gives more detailed information about the susceptible area of an AES cryptographic FPGA surface with high resolution maps in different frequency bands compared with the existing magnetic probe.

목차

1. Introduction
2. Magnetic Probe Description and Fabrication
3. Results and Discussion
4. Conclusion
References

참고문헌 (19)

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