관측치 간 공간적 유사성과 변수의 상관관계를 고려한 반도체 웨이퍼 테스트 데이터의 결측치 대체 방법 개발

김주영 ,  김광재

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2022 .11

딥러닝을 활용한 반도체 웨이퍼 불량 유형 구분 모델에 관한 연구

백선재 ,  이민혁

한국통신학회 학술대회논문집

2022 .02

불균형 데이터에서의 확률 기반 언더샘플링 기법

안길승 ,  박유진 ,  공원영 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2016 .04

반도체 웨이퍼의 표면 불량을 자동적으로 분류하는 CycleGAN 기반 방법

전세준 ,  김창욱 ,  이석형 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2018 .04

웨이퍼 맵 패턴 분석을 위한 삼중항 손실 기반 비지도 표현 학습

강현구 ,  강석호

한국정보과학회 학술발표논문집

2021 .06

반도체 웨이퍼 제조 공정에서 품질과 생산성을 고려한 웨이퍼 할당 방법

이동희 ,  이창호 ,  최승현 외 2명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2018 .11

머신 러닝 기반 웨이퍼 불량 탐지 및 테스트 항목 효율화

김호영 ,  강필성

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2022 .11

반도체 데이터로 불균형 데이터를 위한 오버샘플링과 언더샘플링 방법 비교

박하제 ,  구윤수 ,  양희영 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2024 .06

Probe test 검사 항목 간 관계를 고려한 웨이퍼 빈 맵 불량 유형 별 결측값 대체 방법 개발

김주영 ,  최승현 ,  김광재

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2021 .11

자가 지도학습을 이용하여 데이터 불균형을 고려한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 클러스터링 방법 연구

최이수 ,  김병훈

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2022 .06

웨이퍼 맵의 정량적 분류 체계 개발

최승현 ,  김은수 ,  이동희 외 1명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

반도체 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 모델 개선을 위한 데이터 증강 및 가중치 기반 앙상블 기법 연구

문영대 ,  정규단 ,  권정연 외 10명

대한전자공학회 학술대회

2024 .11

반도체 에칭 공정에서 웨이퍼 내의 공간 위치를 고려한 가상 계측 모형

이한강 ,  김창욱 ,  장재연 외 2명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2017 .04

정상 칩 주변 불량 정보를 활용한 잠재 불량 의심군 선정 방법 개발

박예원 ,  최승현 ,  배영목 외 1명

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2024 .10

웨이퍼 공간적 특성을 결합한 딥러닝 기반의 잠재 결함 칩 검출 접근법 개발

배영목 ,  김광재

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2024 .10

회귀분석을 이용한 반도체 웨이퍼 기울기 조절의 영향 인자 도출 및 개선

길준혁 ,  이나영 ,  신윤경 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2023 .05

Automated System for Cleaning Semiconductor Wafer

So-Young Kwon ,  Young-Hyung Kim ,  Jong-Ik Pa 외 3명

한국정보기술학회논문지

2024 .09

시스템 반도체 테스트 방법론

이영우

전자공학회지

2023 .05

자동차 반도체의 신뢰성 테스트

이성수 ,  김창균

전자공학회지

2019 .01

Particle Map을 활용한 반도체 설비 불량 관리 방법 연구

김세훈 ,  백준걸

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2015 .11