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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1998.9
- 수록면
- 874 - 881 (8page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (3)
1998
Deep Submicron급 CMOS 디바이스에서 Triple Well 형성과 래치업 면역 향상에 관한 연구 ( A Study on Improvement Latch-up immunity and Triple Well formation in Deep Submicron CMOS devices )
홍성표
,
전현성
,
강효영
외 2명
전자공학회논문지-D
1998.09
학술저널
고에너지 이온주입에 의한 Triple-well과 Twin-well구조에서 래치업 예방을 위한 해석 ( An Analysis of Latch-up immunity on Triple-well and Twin-well architecture using a high energy ion implantation )
홍성표
,
전현성
,
김중연
외 3명
대한전자공학회 학술대회
1998.07
학술대회자료
고에너지 이온주입에 의한 Triple-well과 Twin-well구조에서 래치업 예방을 위한 해석
홍성표
,
전현성
,
김중연
외 3명
대한전자공학회 학술대회
1998.06
학술대회자료
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1989 .01
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전자공학회논문지-C
1999 .12
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Deep submicron PMOSFET의 Scaling 방법
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
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Deep Submicron PMOSFET의 Scaling 방법 ( Scaling Methodology of Deep Submicron P-MOSFET )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
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SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1989 .01
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고에너지 이온주입에 의한 Triple-well과 Twin-well구조에서 래치업 예방을 위한 해석
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
-
고에너지 이온주입에 의한 Triple-well과 Twin-well구조에서 래치업 예방을 위한 해석 ( An Analysis of Latch-up immunity on Triple-well and Twin-well architecture using a high energy ion implantation )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
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CMOS Latch-up 현상의 실험적 해석 ( Experimental Analysis of CMOS Latch-up Phenomena )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
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1997 .01
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Deep Implementation을 이용한 CMOS 소자의 제작 및 측정 ( The Fabrication and Evaluation of CMOS Device Using Deep Implantation )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
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Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )
특정연구 결과 발표회 논문집
1988 .01
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Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )
한국통신학회 학술대회논문집
1988 .01
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Submicron에서의 소자 기술 동향
전자공학회지
1991 .09
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Optical Resist Process Technology for Deep-Submicron Patterning
대한전자공학회 워크샵
1991 .01
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차세대 CMOS 소자의 래치업 전류 최소화를 위한 모의 모델 해석
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
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차세대 CMOS 소자의 래치업 전류 최소화를 위한 모의 모델 해석 ( An Analysis on the Simulation Model for Minimization of Latch-Up Current of Advanced CMOS Devices )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
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Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법
콘크리트학회지
2019 .05
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Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
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Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
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차세대 CMOS구조에서 고에너지 이온주입에 의한 래치업 최소화를 위한 모델 해석 ( An Analysis on the Simulation Modeling for Latch-Up Minimization by High Energy Implantation of Advanced CMOS Devices )
전자공학회논문지-D
1999 .02
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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-013291908