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Sunghun Kim (Inje University) Inhee Maeng (Yonsei University College of Medicine) Hyeon Sang Bark (Gwangju Institute of Science and Technology) Jungsup Byun (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Jae Hun Na (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Seho Kim (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Myeong Suk Yim (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Byung-Youl Cha (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Youngbin Ji (Gimhae Biomedical Industry Promotion Agency) Seung Jae Oh (Yonsei University College of Medicine)
저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.7 No.5
발행연도
2023.10
수록면
569 - 573 (5page)

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We utilized terahertz time-domain spectroscopy (THz-TDS) to measure the thickness and electrical properties of nickel-chromium (Ni-Cr) films. This technique not only aligns well with traditional methods, such as haze-meter and transmission-densitometer measurements, but it also reveals the electrical properties and thickness of films down to a few tens of nanometers. The complex conductivity of the Ni-Cr thin films was extracted using the Tinkham formula. The experimental values closely aligned with the Drude model, indicating the reliability of our Ni-Cr film’s electrical and optical constants. The thickness of Ni-Cr was estimated using the complex conductivity. These findings emphasize the potential of THz-TDS in quality control of metallic nanofilms, pointing toward an efficient and nondestructive test (NDT) for such analyses.
#Metal thin film #Ni-Cr film #Terahertz #Thin film #THz time-domain spectroscopy

목차

I. INTRODUCTION
II. METHOD
III. RESULTS
IV. CONCLUSION
REFERENCES

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